西门子数字化工业软件宣布推出 Tessent RLM Pro 解决方案，进一步增强集成电路的可测试性设计（DFT）能力。这一新工具通过集成先进的 RTL（寄存器传输级）分析技术，帮助芯片设计工程师在早期阶段检测并修复潜在的测试问题，从而显著缩短设计周期并降低后期测试成本。随着芯片复杂度的不断提升，Tessent RLM Pro 的推出将助力行业应对良品率与可靠性挑战，推动下一代高性能集成电路的开发进程。